1. Force microscopy
پدیدآورنده : / edited by Bhanu P. Jena, J.K. Heinrich Heorber
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع : Medical electronics,Scanning force microscopy,Scanning probe microscopy,Nanotechnology,Microscopy- Atomic Force,Electronics, Medical,Nanotechnology
رده :
R856
.
A2F675
2006
2. Scanning probe microscopy of functional material
پدیدآورنده : / Sergei V. Kalinin, Alexei Gruverman, editors
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه شهيد چمران (خوزستان)
موضوع : Scanning probe microscopy.,Scanning electron microscopy.,Nanotechnology.
رده :
QH
,
212
,.
S33
,
S397
,
2010
3. Scanning probe microscopy of functional materials
پدیدآورنده : Sergei V. Kalinin, Alexei Gruverman, editors
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه یاسوج (محمد بهمن بیگی) (کهگیلویه و بویراحمد)
موضوع : Scanning probe microscopy,Scanning electron microscopy,Nanotechnology
رده :
502
,.
82
,
S397
4. Scanning probe microscopy of functional materials
پدیدآورنده : / Sergei V. Kalinin, Alexei Gruverman, editors
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع : Scanning probe microscopy,Scanning electron microscopy,Nanotechnology
رده :
QH212
.
S33S397
2010
5. Scanning probe microscopy of functional materials
پدیدآورنده :
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)
موضوع : Scanning probe microscopy. ; Scanning electron microscopy. ; Nanotechnology. ;
